塞貝克熱電效應(yīng)測(cè)試儀

北京飛凱曼公司提供塞貝克熱電效應(yīng)測(cè)試儀系統(tǒng)。塞貝克效應(yīng)是一種物理現(xiàn)象，即兩種不同的導(dǎo)體材料或者半導(dǎo)體材料（如右圖所示）之間的溫度差異在接觸時(shí)會(huì)產(chǎn)生電勢(shì)差。當(dāng)熱量施加在兩種導(dǎo)體或者半導(dǎo)體中的一個(gè)時(shí)，熱電子流會(huì)從熱端流向冷端。當(dāng)這對(duì)材料通過(guò)電子回路連接時(shí)，直流電流（DC）就會(huì)從回路中流過(guò)。塞貝克效應(yīng)產(chǎn)生的電壓很小，通常在連接點(diǎn)每開氏溫度只有幾個(gè)微伏或幾個(gè)毫伏。如果溫度差足夠大，一些塞貝克效應(yīng)器件可以產(chǎn)

2014-03-12 面議/臺(tái)

朗繆爾探針

北京飛凱曼公司提供朗繆爾探針測(cè)試系統(tǒng)。朗繆爾探針是等離子體性質(zhì)的診斷方式之一，也是較基本的診斷方式。向等離子體中插入一根極小的電極，然后加上一定的電壓，測(cè)定通過(guò)的電流與所加電壓的關(guān)系，可以得到探針的電壓-電流特性曲線。再根據(jù)曲線上的特殊點(diǎn)就可以求得等離子體的密度、電子溫度、等離子體電位和懸浮電位。 本公司提供的朗繆爾探針，是根據(jù)我們科研工作者長(zhǎng)期的扎實(shí)的理論研究和實(shí)際工藝探索，研制的一套適用于等

2014-03-12 面議/臺(tái)

薄膜應(yīng)力測(cè)試儀

北京飛凱曼科技公司提供薄膜應(yīng)力測(cè)試儀。薄膜應(yīng)力測(cè)試儀，又名薄膜殘余應(yīng)力測(cè)試儀或薄膜應(yīng)力儀，是專門用于測(cè)試和研究薄膜材料和薄膜制備工藝的必不可少的工具。 薄膜中應(yīng)力的大小和分布對(duì)薄膜的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)有重要的影響, 可導(dǎo)致薄膜的光、電、磁、機(jī)械性能改變. 例如, 薄膜中的應(yīng)力是導(dǎo)致膜開裂或與基體剝離的主要因素, 薄膜中存在的殘余應(yīng)力很多情況下影響MEMS 器件結(jié)構(gòu)的特性, 甚至嚴(yán)重劣化器件的性能, 薄膜

2014-03-12 0

霍爾效應(yīng)測(cè)試儀

北京飛凱曼公司提供霍爾效應(yīng)測(cè)試儀。臺(tái)灣SWIN公司生產(chǎn)的霍爾效應(yīng)測(cè)試儀?(Hall Effect Measurement System)是性能穩(wěn)定、功能強(qiáng)大、性價(jià)比高的霍爾效應(yīng)儀，在國(guó)內(nèi)高校、研究所及半導(dǎo)體業(yè)界擁有廣泛的用戶和知名度。本儀器輕巧方便，易于攜帶，主要用于量測(cè)電子材料之重要特性參數(shù)，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，薄膜或體材料均可，其原理主要依據(jù)范德堡法則。? 除了用來(lái)判斷

2014-03-09 面議/臺(tái)